CHY型高精度薄膜测厚仪北京中慧天诚科技有限公司

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CHY型高精度薄膜测厚仪

发表时间： 2012-01-02

适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
标    准GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
产品特点：
1.微电脑控制、液晶显示
2.菜单式界面、PVC操作面板
3.接触式测量
4.测头自动升降
5.自动进样
6.手动、自动双重测量模式
7.数据实时显示、自动统计
8.显示最大值、最小值、平均值和统计偏差
9.可设进样步距、测量点数、进样速度等参数
10.标准接触面积、测量压力（非标可选）
11.显示最大值、最小值、平均值和统计偏差
12.标准量块标定
13.RS232接口
14.网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输
技术指标：
测量范围：0～2mm；0～6mm；12mm（可选）
分辨率：0.1μm
测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）
接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）
注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
进样步距：0～1000mm
进样速度：0.1～99.9mm/s
电    源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：461mm（L）×334mm（B）×357mm（H）
净    重：32kg
标准配置：主机、标准量块一件
选购件：专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码

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