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  新闻动态  
CHY型高精度薄膜测厚仪
发表时间: 2012-01-02
适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
标    准GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
产品特点:
1.微电脑控制、液晶显示
2.菜单式界面、PVC操作面板
3.接触式测量
4.测头自动升降
5.自动进样
6.手动、自动双重测量模式
7.数据实时显示、自动统计
8.显示最大值、最小值、平均值和统计偏差
9.可设进样步距、测量点数、进样速度等参数
10.标准接触面积、测量压力(非标可选)
11.显示最大值、最小值、平均值和统计偏差
12.标准量块标定
13.RS232接口
14.网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输
技术指标:
测量范围:0~2mm;0~6mm;12mm(可选)
分 辨 率:0.1μm
测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张)
接触面积:50mm2(薄膜);200mm2(纸张)
注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制
进样步距:0~1000mm
进样速度:0.1~99.9mm/s
电    源:AC 220V 50Hz
外形尺寸:461mm(L)×334mm(B)×357mm(H)
净    重:32kg
标准配置:主机、标准量块一件
选 购 件:专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码

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