高频介质损耗测试仪XMTD-8北京中慧天诚科技有限公司

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高频介质损耗测试仪
型号：XMTD-8

货号：ZH11155

产品简介：
介质损耗和介电常数是%种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的%种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，%、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新，，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至，低，并保留了原Q表中自动稳幅等，，使得新仪器在使用时%为方便，测量值%为，。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研，、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。仪器遵从标准：GB/T5594.4-1985。
，指标：
1．Q值测量
a．Q值测量范围：5～999
b．Q值量程分档：30、100、300、999、自动换档
c．标称误差
频率范围：25kHz～10MHz
固有误差：≤5%±满度值的2%
工作误差：≤7%±满度值的2%
频率范围：10MHz～50MHz
固有误差：≤7%±满度值的2%
工作误差：≤10%±满度值的2%
2．电感测量
测量范围：0.1μH～1H
分    档：分七个量程
0.1～1μH，1～10μH，10～100μH， 0.1～lmH，1～10mH，10～100mH，100 mH～1H
3．电容测量
测量范围：1～460pF(460pF以上的电容测量见使用规则)
电容量调节范围
主调电容器：40～500pF
准确度：150pF以下±1.5pF；150pF以上±1%
微调电容量：－3pF～0～＋3pF
准确度：±0.2pF
4．振荡频率
振荡频率范围：25kHz～50MHz
频率分档： 25～74kHz，74～213kHz，213-700kHz，700kHz～1.95MHz，1.95MHz～5.2MHz，5.2MHz～17MHz，17～50MHz
频率误差：2×10-4±1个字
5．Q合格指示预置功能，预置范围：5～999
6．仪器正常工作条件
环境温度：0℃～+40℃
相对湿度：<80%
电    源：220V±22V，50Hz±2.5Hz
7．试样尺寸圆片形：厚度2+0.5mm，直径为Φ30~40mm（ε<12时），Φ25~35mm（ε=12~30时），Φ15~20mm（ε>30时）
8．其他
消耗功率：约25W
净    重：约7kg
外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。

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