产品简介:
电子逸出功实验仪用于测量金属材料电子逸出功e（或逸出电位）的物理实验仪器，还可用于研究二极管的伏安特性以及测量电子荷质比。实验目的： 1.了解热电子发射的基本规律； 2.用理查孙直线法测定金属钨电子的逸出功 （逸出电位）； 3.研究二极管的伏安特性； 4.用磁控条件测量电子荷质比； 5.学习避开某些不易测常数而直接得到结果的方法。 规格参数 数据采集：三位半数字表分别显示灯丝电流、阳极电压、阳极电流、磁控电流 理想二极管：纯钨丝 灯丝电流：DC 0~0.750A，连续可调；精度1mA，三位半数字显示 阳极电压：DC 0~199.9V，连续可调；精度0.1V，三位半数字显示 阳极电流：0~1999uA，精度1uA，三位半数字显示 磁控电流：DC 0~0.800A，连续可调，精度1mA，三位半数字显示 主机尺寸：约330mm×300mm×145mm 仪器组成:
金属电子逸出功测定仪 电源主机 1台
金属电子逸出功测试台（包含理想二极管） 1台
理想二极管磁控线圈 1只
实验连接线 8根
使用说明书 1本
产品合格证 1只
三相电源线 1根
保险丝（1A） 2只
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