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产品简介: 数字式硅晶体载流子复合寿命测试仪是按照半导体设备和材料（MF28-0707、MF1535-0707）及GB/T1553的要求。采用高频光电导衰减测量方法，适用于测量铸造多晶和硅晶体载流子复合寿命。 规格参数： 少子寿命测量范围：0.25μS-10ms 电阻率下限：≥0.3Ω·cm 测量型号：N型或P型单晶或铸造多晶 光脉冲发生装置 重复频率：＞15次/S 脉宽范围：≥10μs 红外光源波长：1.06-1.08μm 脉冲电流：5A-16A 红外光源短波长：0.904-0.905μm 脉冲电流：5A-16A 高频源 频率范围：30MHz 输出功率：＞1W 放大器、检波器 频率响应：2Hz-2MHz 放大倍数：约30倍 光源电极台：测量低阻样片用；可测纵向放置的单晶、测量竖放单晶横截面的寿命。 电极背光灯：当光电导衰退波形出现陷阱效应时，开启背光灯后曲线尾部逐渐下降，此时读出的衰退时间接近寿命值。 读数方式：可选配测试软件或数字示波器读数 测试软件：具有自动保存数据及测试点衰减波形，可进行查询历史数据和导出历史数据等操作。
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