|
产品简介: 高频光电导少数载流子寿命测试仪是按照半导体设备和材料MF1535-0707及GB/T 26068的要求，采用高频光电导衰减测量方法，适用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，硅单晶寿命测量ρ≥3Ω·cm。 规格参数 寿命测试范围：5-10000μs 电阻率测量范围：ρ≥3Ω·cm， 光脉冲发生装置 重复频率：＞25次/s 脉宽：≥60μs 光脉冲关断时间＜1μs 红外光源波长：1.06μm（测量硅单晶），如测量锗单晶寿命需配适当波长的光源。 脉冲电源：5A-12A 高频源 频率范围：30MHz 输出功率＞1W 放大器、检波器 频率响应：2Hz-3MHz 读数方式：可选配测试软件或数字示波器读数 测试软件：具有自动保存数据及测试点衰减波形，可进行查询历史数据和导出历史数据等操作。
|